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ダイナミック超微小高度計SDUHシリーズ／SDUH-201
半導体、LSI、セラミック、ハードディスク、蒸着薄膜、コーディング薄膜など、通常の試験機では対応しえないミクロ領域における材料強度の新しい評価システムです。また、プラスチック、ゴムの硬度評価にも使用できます
●ダイナミック硬さ演算式
●超ワイドな荷重レンジ
●押し込み深さ測定方式採用
●圧子押し込み過程の試料の挙動を記録
●負荷、除荷試験、繰り返し試験も可能
●ビッカース硬さ試験に対応（JIS準処）
●プリンタ標準付属
●豊富なアプリケーションプログラム
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