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デュアルタイプ膜厚計／M70Z-990K
デュアルタイプ膜厚計M70Z-990Kはシンプルな小型膜厚計です。しかしながら膜厚管理に必要な機能は充実し、アプリケーション・メモリ（検量線メモリ）機能、測定データ・メモリ、膜厚管理の上下限設定、簡単な統計処理、データ出力など15種の機能を装備しています。磁性金属に施された被膜厚測定と、非磁性金属に施された被膜厚等の測定が可能です。しかも、素材を判別しその測定モードへ自動的に切り替わります。プリンタや測定スタンド、外部出力ケーブルなどのオプションも充実しています。
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